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用二次諧波色散掃描表征超短激光脈沖（本文譯自CharacterizingultrashortlaserpulseswithsecondharmonicdISPersionscans，IvanSytcevich,ChenGuo,SaraMikaelsson,JanVogelsang,Anne-LiseViotti,BenjamínAlonso,RosaRomero,PauloT.Guerreiro,AnneL’Huillier,HelderCrespo,MiguelMirand...
查看全文如何選擇和使用飛秒脈沖測量和壓縮器d-scan系列產(chǎn)品本簡易指南為您提供了關(guān)于如何使用飛秒脈沖測量和壓縮器d-scan系列產(chǎn)品及如何選擇型號以匹配您的應(yīng)用和激光源的指導(dǎo)。我們的產(chǎn)品間的區(qū)別是什么？我們所有的產(chǎn)品都是基于色散掃描技術(shù)。每個產(chǎn)品都測量激光的SHG光譜作為色散的函數(shù)，并反演激光脈沖的光譜相位。產(chǎn)品之間的主要區(qū)別在于測量類型(掃描或單發(fā))，可以測量的z短/z長脈沖，以及系統(tǒng)是否也可以同時壓縮脈沖。下表總結(jié)了我們?nèi)齻€激光應(yīng)用產(chǎn)品系列之間的主要區(qū)別。對于雙光子顯微鏡應(yīng)用，...
查看全文隨著激光技術(shù)在工業(yè)制造、醫(yī)療健康、科研實(shí)驗(yàn)及光纖通信等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，高功率激光功率計(jì)作為激光系統(tǒng)中的關(guān)鍵測量設(shè)備，其重要性日益凸顯。它能夠精確測量激光的功率，為激光系統(tǒng)的優(yōu)化、性能評估及故障診斷提供重要依據(jù)。本文將從高功率激光功率計(jì)的原理出發(fā)，深入探討其不同類型、應(yīng)用領(lǐng)域及使用要點(diǎn)。(一)光電型光電型激光功率計(jì)探頭是通過光電二極管，直接將光能轉(zhuǎn)換為電流或電壓信號以表征激光功率的大小。光電二極管傳感器的核心部分是PN結(jié)，光電二極管實(shí)際上是加了一個反向偏壓的PN結(jié)，當(dāng)反向偏壓足...
查看全文調(diào)Q納秒激光器在生物成像領(lǐng)域-光聲成像方面的應(yīng)用在過去幾十年里，一種被稱為光聲成像（OAI）或光聲成像（PAI）的新型生物醫(yī)學(xué)成像模式正從實(shí)驗(yàn)室走向臨床應(yīng)用。PAI能夠提供結(jié)構(gòu)、血流動力學(xué)、功能、氧代謝、基因表達(dá)、生物標(biāo)志物、分子等方面的信息。光聲成像（PAI）是一種新興的成像方式，用于臨床和生物醫(yī)學(xué)研究領(lǐng)域。PAI系統(tǒng)使用傳統(tǒng)Q開關(guān)的Nd:YAG/OPO（光學(xué)參量振蕩器）納秒激光器作為激發(fā)源。這些激光器價格昂貴、體積龐大，脈沖重復(fù)率低，成像速度有限。在使用中光聲激發(fā)脈沖的持...
查看全文D7點(diǎn)衍射激光干涉儀用于測量介觀顯微物鏡的檢測方案介觀物鏡，因其具有復(fù)雜的光學(xué)結(jié)構(gòu)和出色的像差優(yōu)化，可以實(shí)現(xiàn)高NA和超大成像FOV，顯著提高光學(xué)顯微鏡成像通量的特點(diǎn)而被人們熟知。介觀顯微物鏡可用于廣域成像系統(tǒng)、激光共焦掃描成像系統(tǒng)和雙光子成像等系統(tǒng)，具有重要的研究意義。本文介紹了一種用D7點(diǎn)衍射激光干涉儀測量介觀顯微物鏡的檢測方案，具體方案如下圖所示：1.光源部分1.D7系統(tǒng)的光源為連續(xù)波(CW)單模(SLM)激光器：具有不同波長的相干性，覆蓋了激光器的工作光譜范圍包括:48...
查看全文空間光調(diào)制器（SLM）在大規(guī)模可編程量子模擬器中的應(yīng)用摘要：近年來，量子計(jì)算的快速發(fā)展正在為人類揭示復(fù)雜量子系統(tǒng)的物理規(guī)律提供的工具。可編程量子模擬器作為量子計(jì)算領(lǐng)域的重要成果，為探索量子現(xiàn)象和解決復(fù)雜問題提供了新的途徑。空間光調(diào)制器（Spatiallightmodulator,SLM）憑借其動態(tài)調(diào)控光場相位、振幅和偏振的能力，逐漸成為量子模擬器中的核心元件。SLM主要用于對量子比特進(jìn)行操控和編碼，為光鑷陣列、冷原子操控以及光子量子態(tài)調(diào)控提供了靈活性。什么是大規(guī)模可編程量子模...
查看全文相位偏折術(shù)/PDM/偏折測量（Deflectometry）技術(shù)簡介摘要：偏折測量技術(shù)（PDM）又稱為相位偏折術(shù)或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測量技術(shù),絕對檢測精度可達(dá)10-20nmRMS,可以用于平面、球面、非球面、離軸拋物面、自由曲面等面型的高精度檢測。具有測量角度大、非接觸、精度高、速度快等特點(diǎn)。偏折測量系統(tǒng)構(gòu)成：相位偏折測量系統(tǒng)主要由ccd相機(jī)、LCD顯示屏和待測件三個部分組成，系統(tǒng)配置如下圖。LCD顯示屏投射提前生成好的結(jié)構(gòu)光正弦條紋，正...
查看全文負(fù)剛度隔振平臺在原子力顯微鏡中的應(yīng)用原子力顯微鏡（AFM）已成為在納米尺度上對材料和細(xì)胞進(jìn)行成像與測量的重要工具之一。原子力顯微鏡能夠揭示原子級別的樣品細(xì)節(jié)，分辨率可達(dá)幾分之一納米量級，它有助于多種應(yīng)用的成像，例如確定各種表面的表面特性、光刻、數(shù)據(jù)存儲以及原子和納米級結(jié)構(gòu)的操作。原子力顯微鏡在研究中的應(yīng)用盡管原子力顯微鏡技術(shù)已經(jīng)取得了長足的進(jìn)步，但對于需要使用它的研究人員來說，并不總是能夠輕易受益。而且在納米技術(shù)專業(yè)的學(xué)生實(shí)驗(yàn)室中，原子力顯微鏡的使用也不夠普及，這是因?yàn)閷W(xué)生操...
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