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昊量光電作為LiquiidInstruments公司戰(zhàn)略合作伙伴，為大家隆重推送新品Moku：Delta！Mpku：Delta具有超高帶寬：2GHz、8個模擬輸入和8個模擬輸出、32通道高速數(shù)字I/O和Moku：Delta支持15種不同的儀器，并且能夠同時部署多達8臺儀器，在單個2U設(shè)備中提供超過20億種可能的測試配置。RFSoCFPGA的部分重配置提供了軟件的靈活性和硬件的性能。Mpku：Delta關(guān)鍵規(guī)格參數(shù)：超高分辨率2G示波器：我們的算法可自動智能地混合來自8個獨立1...
查看全文新品|德國ViALUX-實時PCIe接口DMD空間光調(diào)制器PCIe接口|實時流媒體顯示DMD空間光調(diào)制器/數(shù)字微鏡——紫外、可見光和紅外波段可選引言DLP（數(shù)字光處理）技術(shù)是一種MEMS空間光調(diào)制技術(shù)，其應(yīng)用范圍已經(jīng)遠遠超出了傳統(tǒng)的多媒體投影領(lǐng)域，在數(shù)字光編碼、光處理和工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用。德國ViALux公司提供了廣泛的DLP產(chǎn)品和解決方案，借助V-Module系列產(chǎn)品的高性能和高靈活性，在行業(yè)內(nèi)脫穎而出。V-Module家族以往的Hi-Speed和Superspeed系列...
查看全文多光譜相機作為一種成像技術(shù)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、環(huán)境監(jiān)測、遙感測繪、工業(yè)檢測等領(lǐng)域。它能夠捕捉多個波段的光譜信息，為用戶提供比傳統(tǒng)相機更豐富的數(shù)據(jù)。本文將詳細介紹它的技術(shù)原理以及選型時需要考慮的關(guān)鍵因素，幫助用戶更好地選擇適合自身需求的設(shè)備。一、技術(shù)原理（一）光譜成像基礎(chǔ)光譜成像是一種通過捕捉物體在不同波長下的反射或發(fā)射光來獲取其光譜信息的技術(shù)。多光譜相機通常能夠捕捉從可見光到近紅外波段的多個離散波段的光譜信息。這些波段的選擇是基于特定應(yīng)用的需求，例如，植被監(jiān)測通常會關(guān)注紅光...
查看全文膜厚測量儀作為一種關(guān)鍵的分析工具，正發(fā)揮著越來越重要的作用。它憑借著測量原理和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，成為眾多行業(yè)的得力助手。下面，讓我們一同深入了解膜厚測量儀的奧秘。測量原理的多樣性膜厚儀的測量原理豐富多樣，以滿足不同材料和場景的測量需求。磁感應(yīng)原理主要適用于磁性基體上的非磁性涂層，通過測量磁力線在磁性基體與涂層間的變化來確定膜厚；渦流原理則針對非磁性基體上的非導(dǎo)電涂層，利用高頻電流產(chǎn)生的渦流效應(yīng)來測量膜厚；還有光學(xué)干涉原理，利用光的干涉現(xiàn)象，通過分析干涉條紋的變化來精確測量薄膜厚...
查看全文昊量光電攜insion近紅外光譜儀參加第四屆小微型近紅外光譜儀研發(fā)與應(yīng)用交流會并做報告昊量光電攜INSION近紅外光譜儀參加第四屆小微型近紅外光譜儀研發(fā)與應(yīng)用交流會并做報告第四屆小微型近紅外光譜儀研發(fā)與應(yīng)用交流會在3月14到3月16日在常州市順利召開，這次會議地點選擇在南京大學(xué)未來創(chuàng)新研究院，由近紅外光譜技術(shù)服務(wù)平臺、武進南京大學(xué)未來技術(shù)創(chuàng)新研究院、常州工學(xué)院、江蘇大學(xué)食品與生物工程學(xué)院主辦，北京中儀普眾技術(shù)咨詢有限公司承辦，近紅外光譜蘇滬工作站協(xié)辦。昊量光電攜insion微...
查看全文邀請函|昊量光電2025年慕尼黑上海光博會不見不散慕尼黑上海光博會于2025年3月11-13日在上海新國際博覽中心舉辦。屆時昊量光電將攜原廠展團亮相光博會，共同展出多款前沿光電產(chǎn)品及技術(shù)解決方案，還特別增設(shè)云逛展的直播活動，誠邀新老客戶蒞臨E5館5426+5436洽談交流，或在線觀看直播哦！E5館5426+5436重磅新品昊量光電部分重磅新品搶先看！可掃碼預(yù)約試用或咨詢產(chǎn)品詳情！點擊圖片即可跳轉(zhuǎn)到產(chǎn)品詳情！應(yīng)用速遞本次展品豐富，涉及領(lǐng)域涵蓋生物顯微、半導(dǎo)體檢測、量子光學(xué)、激光...
查看全文膜厚測量儀，又稱薄膜厚度測量儀，是一種專門用于精密測量薄膜或涂層厚度的儀器。它基于光學(xué)干涉原理，通過光纖技術(shù)和干涉光譜分析技術(shù)，能夠非接觸、無損傷地測量透明涂層或薄膜的厚度。這種測量方式不僅避免了傳統(tǒng)機械接觸式測量可能帶來的損傷，還大大提高了測量的精度和效率。MProbe系列的工作原理相當(dāng)精妙。它發(fā)出不同波長的光波穿透樣品膜層，膜的上下表面反射光被儀器接收。反射光相互之間的相位差會因薄膜的厚度和折射率不同而發(fā)生變化。儀器通過計算這些相位差，結(jié)合已知材料的光學(xué)參數(shù)，可以推導(dǎo)出薄...
查看全文特別是在納米與微米尺度上，膜厚的精準控制對于提升材料性能、優(yōu)化制造工藝具有至關(guān)重要的作用。膜厚測量儀的問世，以其測量精度與廣泛的應(yīng)用范圍，實現(xiàn)了從實驗室到生產(chǎn)線的無縫對接，為科研與生產(chǎn)的深度融合提供了強有力的技術(shù)支撐。膜厚測量儀采用了一系列前沿技術(shù)，包括激光干涉、白光干涉、橢偏測量以及電子顯微鏡等，這些技術(shù)能夠在納米至微米的尺度上，對薄膜材料的厚度進行高精度測量。相較于傳統(tǒng)的測量方法，膜厚儀不僅測量精度更高，而且測量速度更快，能夠在短時間內(nèi)提供大量可靠的測量數(shù)據(jù)，極大地提高了...
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